Dra. Liliana Estela Guevara Macías


Formación

2011-2015 Doctorado en Ingeniería Eléctrica, Universidad Autónoma de San Luis Potosí.

2011-2015 Maestría en Ciencias Aplicadas, Universidad Autónoma de San Luis Potosí.

2004-2008 Licenciatura en Ingeniería Física, Universidad Autónoma de San Luis Potosí.


Publicaciones

AIP Review of Scientific Instrumets

A rapid reflectance-difference spectrometer for real-time semiconductor growth monitoring with sub-secondtime resolution. O. Nu´ n˜ ez-Olvera, R. E. Balderas-Navarro, J. Ortega-Gallegos, L.E. Guevara-Mac´ıas, A. Armenta-Franco, M. A. Lastras-Montan˜ o, L. F. Lastras-Mart´ınez and A. Lastras-Mart´ınez. 83, 103109 (2012).

AIP Materials

Real-time reflectance-difference spectroscopy of GaAs molecular beam epitaxy homoepitaxial growth. A. Lastras-Mart´ınez, J. Ortega-Gallegos, L.E. Guevara-Mac´ıas, O. Nu´ n˜ ez-Olvera, R. E. Balderas-Navarro,L. F. Lastras-Mart´ınez, L. A. Lastras-Montan˜ o and M. A. Lastras-Montan˜ o. 2, 032107 (2014).

Journal of Crystal Growth

Reflectance-difference spectroscopy as a probe for semiconductor epitaxial growth monitoring.  A. Lastras-Martínez, J. Ortega-Gallegos, L.E. Guevara-Macías, O. Nuúñez-Olvera, R. E. Balderas-Navarro,L. F. Lastras-Martíınez, L. A. Lastras-Montaño and M. A. Lastras-Montaño. 425, 21-24 (2015).

Measurement Science and Technology

A multichannel reflectance anisotropy spectrometer for epitaxial growth monitoring. D. Ariza-Flores, J. Ortega-Gallegos, O. Núñez-Olvera, R. E. Balderas-Navarro, L. F. Lastras-Martínez, L.E. Guevara-Macías and A. Lastras-Martínez, 26, 115901 (2015).

 

email: liliana@cactus.iico.uaslp.mx